鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購(gòu)買(mǎi)時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測(cè)到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測(cè)到3mm。
在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿足您的測(cè)量需求。客戶在選購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測(cè)厚儀在使用前為減少測(cè)量的誤差，可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會(huì)提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測(cè)試片放在調(diào)零板上測(cè)量。測(cè)量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片的誤差范圍之內(nèi)，則說(shuō)明儀器可以正常使用了。

鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī)，并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭，非常的靈敏，會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材，并且自動(dòng)轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào)，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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